2019

• Annealing Behavior with Thickness Hindered Nucleation in Small-Molecule Organic Semiconductor Thin Films

  ROZBOŘIL Jakub BROCH Katharina RESEL Roland CAHA Ondřej MÜNZ Filip MIKULÍK Petr ANTHONY John E. SIRRINGHAUS Henning NOVÁK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  CRYSTAL GROWTH & DESIGN, rok: 2019, ročník: 19, vydání: 7, DOI

• Exploiting the potential of beam-compressing channel-cut monochromators for laboratory high-resolution small-angle X-ray scattering experiments

  NÁDAŽDY P. HAGARA J. JERGEL M. MAJKOVÁ E. MIKULÍK Petr ZÁPRAŽNÝ Z. KORYTÁR D. ŠIFFALOVIČ P.

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Crystallography, rok: 2019, ročník: 52, vydání: 3, DOI

2017

• Properties of Multimode Optical Epoxy Polymer Waveguides Deposited on Silicon and TOPAS Substrate

  PRAJZLER V. NERUDA M. NEKVINDOVÁ P. MIKULÍK Petr

  Článek v odborném periodiku

  Radioengineering, rok: 2017, ročník: 26, vydání: 1, DOI

• Scanning electron microscopy of dental calculus from Great Moravian necropolis Znojmo-Hradiště

  FIALOVÁ Dana DROZDOVÁ Eva SKOUPÝ Radim MIKULÍK Petr KLÍMA Bohuslav

  Článek v odborném periodiku

  Anthropologie, rok: 2017, ročník: 55, vydání: 3

• syris: a flexible and efficient framework for X-ray imaging experiments simulation

  FARAGÓ Tomáš MIKULÍK Petr ERSHOV A. VOGELGESANG M. HANSCHKE D. BAUMBACH T.

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Synchrotron Radiation, rok: 2017, ročník: 24, vydání: November, DOI

2016

• Towards high-flux X-ray beam compressing channel-cut monochromators

  VEGSO Karol JERGEL Matej SIFFALOVIC Peter MAJKOVA Eva KORYTAR Dusan ZAPRAZNY Zdenko MIKULÍK Petr VAGOVIC Patrik

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Crystallography, rok: 2016, ročník: 49, vydání: December, DOI

2015

• Calculations and surface quality measurements of high-asymmetry angle x-ray crystal monochromators for advanced x-ray imaging and metrological applications

  ZÁPRAŽNÝ Z. KORYTÁR D. JERGEL M. ŠIFFALOVIČ P. DOBROČKA E. VAGOVIČ P. FERRARI C. MIKULÍK Petr DEMYDENKO M. MIKLOŠKA M.

  Článek v odborném periodiku

  Optical Engineering, rok: 2015, ročník: 54, vydání: 3, DOI

• Local strain and defects in silicon wafers due to nanoindentation revealed by full-field X-ray microdiffraction imaging

  LI Z.J. DANILEWSKY A.N. HELFEN L. MIKULÍK Petr HAENSCHKE D. WITTGE J. ALLEN D. MCNALLY P. BAUMBACH T.

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Synchrotron Radiation, rok: 2015, ročník: 22, vydání: July, DOI

2014

• Scanning electron microscopy (SEM) analysis of ancient human dental calculus treated by chemical conservation

  FIALOVÁ Dana DROZDOVÁ Eva SKOUPÝ Radim MIKULÍK Petr

  Konferenční abstrakty

  Rok: 2014, druh: Konferenční abstrakty

• Simulations and surface quality testing of high asymmetry angle X-ray crystal monochromators for advanced X-ay imaging applications

  ZÁPRAŽNÝ Z. KORYTÁR D. ŠIFFALOVIČ P. JERGEL M. DEMYDENKO M. MIKULÍK Petr DOBROČKA E. FERRARI C. VAGOVIČ P. MIKLOŠKA M.

  Článek ve sborníku

  Advances in X-Ray/EUV Optics and Components IX, rok: 2014