doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
docent – Ústav fyziky kondenzovaných látek
kancelář: pav. 09/02028
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 5886 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 93
2006
-
Crystallite misorientation analysis in semiconductor wafers and ELO samples by rocking curve imaging
Applied Surface Science, rok: 2006, ročník: 253, vydání: 1
-
Investigation of hybrid pixel detector arrays by synchrotron-radiation imaging
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A, rok: 2006, ročník: 563, vydání: 1
-
Three-dimensional Imaging by Synchrotron Radiation Computed Laminography
ESRF Highlights 2005, rok: 2006, ročník: 2006, vydání: 1
-
X-ray microdiffraction imaging investigations of wing tilt in epitaxially overgrown GaN
Physica stat.sol.(a), rok: 2006, ročník: 203, vydání: 7
2005
-
Aberrations of diffractive-refractive optics: Bragg-case sagittal focusing of multiple parabolic elements
J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2005, ročník: 38, vydání: 24
-
Distribution and Burgers vectors of dislocations in semiconductor wafers investigated by rocking-curve imaging
J. Appl. Crystallography, rok: 2005, ročník: 38, vydání: 1
-
High-resolution three-dimensional imaging of flat objects by synchrotron-radiation computed laminography
Applied Physics Letters, rok: 2005, ročník: 86, vydání: 1
-
Local wing tilt analysis of laterally overgrown GaN by x-ray rocking curve imaging
Journal of physics D: Applied physics, rok: 2005, ročník: 38, vydání: 10A
-
Monolithic two-dimensional beam compressor for hard x-ray beams
J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2005, ročník: 38, vydání: 1
-
Spontaneous lateral modulation in short-period superlattices investigated by grazing-incidence X-ray diffraction
Physical Review B, rok: 2005, ročník: 72, vydání: 3