Informace o publikaci

X-RAY LAUE DIFFRACTION STUDY OF OXYGEN PRECIPITATES IN CZOCHRALSKI SILICON

Název česky Studie kyslíkových precipitátů v Czochralského křemíku pomocí rtg Laueho dofrakce
Autoři

RŮŽIČKA Jiří MEDUŇA Mojmír

Rok publikování 2011
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova Czochralski silicon; oxygen precipitates; x-ray Laue diffraction; statistical dynamical theory of diffraction
Popis V prezentovaném článku jsme studovali kyslíkové precipitáty pomocí rtg difrakce v Laueho geometrii.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info