doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.

1999

• Structural characterization of a lamellar W/Si multilayer grating

  JERGEL M. MIKULÍK Petr MAJKOVÁ E. LUBY Š. SENDERÁK R. PINČÍK E. BRUNEL M. HUDEK P. KOSTIČ I. KONEČNÍKOVÁ A.

  Článek v odborném periodiku

  J. Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 85, vydání: 2

• Structural characterization of lamellar multilayer gratings by X-ray reflectivity and scanning electron microscopy

  JERGEL M. MIKULÍK Petr MAJKOVÁ E. LUBY Š. SENDERÁK R. PINČÍK E. BRUNEL M. KOSTIČ I. KONEČNÍKOVÁ A.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 32, vydání: 9999

• The crystal truncation rod scattering of neutrons and the multiwave dynamical theory of diffraction

  LITZMAN Otto MIKULÍK Petr

  Článek v odborném periodiku

  J.Phys.: Condens. Matter, rok: 1999, ročník: 11, vydání: 9999

• X-ray diffraction from quantum wires and quantum dots

  ZHUANG Y. STANGL J. DARHUBER A.A. BAUER G. MIKULÍK Petr HOLÝ Václav DAROWSKI N, PIETSCH U.

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Materials Science: Materials in Electronics, rok: 1999, ročník: (10)1999, vydání: -

• X-ray reflection by rough multilayer gratings: Dynamical and kinematical scattering

  MIKULÍK Petr BAUMBACH T.

  Článek v odborném periodiku

  Phys. Rev. B, rok: 1999, ročník: 59, vydání: 11

• X-Ray Reflectivity by Rough Multilayers

  BAUMBACH Tilo MIKULÍK Petr

  Kapitola v knize

  X-Ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications, rok: 1999, počet stran: 49 s.

1998

• Highly regular self-organization of step bunches during growth of SiGe on Si(113)

  DARHUBER A.A. HOLÝ Václav STANGL J. MIKULÍK Petr BRUNNER K. ABSTREITER G. BAUER G.

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. Lett., rok: 1998, ročník: 73(1998), vydání: -

• X-ray reflection by multilayer surface gratings

  MIKULÍK Petr BAUMBACH Tilo

  Článek v odborném periodiku

  Physica B condensed matter, rok: 1998, ročník: 248, vydání: 9999

1997

• X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)

  MIKULÍK Petr

  Odborná kniha

  Rok: 1997, počet stran: 151 s.

1996

• Dynamical theory of diffraction of particles: Ewald approach. I.

  DUB Petr LITZMAN Otto MIKULÍK Petr

  Kapitola v knize

  Dynamical theory of diffraction of particles: Ewald approach, rok: 1996, počet stran: 34 s.