doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
docent – Ústav fyziky kondenzovaných látek
kancelář: pav. 09/02028
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 5886 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 92
1999
-
X-ray diffraction from quantum wires and quantum dots
Journal of Materials Science: Materials in Electronics, rok: 1999, ročník: (10)1999, vydání: -
-
X-ray reflection by rough multilayer gratings: Dynamical and kinematical scattering
Phys. Rev. B, rok: 1999, ročník: 59, vydání: 11
1998
-
Highly regular self-organization of step bunches during growth of SiGe on Si(113)
Appl. Phys. Lett., rok: 1998, ročník: 73(1998), vydání: -
-
X-ray reflection by multilayer surface gratings
Physica B condensed matter, rok: 1998, ročník: 248, vydání: 9999
1997
-
X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)
Rok: 1997, počet stran: 151 s.
1996
-
Dynamical theory of diffraction of particles: Ewald approach. I.
Dynamical theory of diffraction of particles: Ewald approach, rok: 1996, počet stran: 34 s.
-
Dynamical theory of diffraction of particles: Ewald's approach. I
Scripta Fac. Sci. Nat. Univ. Purk. Brun., rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 26
-
Multiple diffraction of particles by a system of point scatterers as an exactly soluble problem using the Ewald concept
J.Phys.: Condens. Matter, rok: 1996, ročník: 8, vydání: 9999
-
Theoretical description of multiple crystal arrangements
X-ray and neutron dynamical diffraction: theory and applications, rok: 1996
1995
-
Epitaxial growth and characterization of Y<sub>2</sub>Co<sub>17</sub>(0001) thin films deposited on W(110)
J. Appl. Phys., rok: 1995, ročník: 78